Qualität – Elektrische Testverfahren
Unter Spannung und Strom
Zur Sicherstellung der 100%-Qualität der elektrischen Funktionalität stellt ACD Systemtechnik unterschiedliche elektrische Testverfahren bereit.
Elektrische Testumgebung
In Circuit Test
Der In-Circuit-Test (ICT) ist ein Prüfverfahren in der Elektronikfertigung um die korrekte Funktion elektronischer Baugruppen nachzuweisen. Beim ICT steht die Prüfung der Bauelemente und der elektrischen Verbindungen einer bestückten Leiterplatte im Vordergrund.
Dabei wird jede einzelne Leiterplatte mit einem speziellen Prüfadapter auf Fehler in der Leiterbahnführung (wie Kurzschlüsse oder Unterbrechungen), Lötfehler und Bauteilefehler geprüft.
Elektrische Testumgebung
Funktionstest
Im Funktionstest wird die reale Umgebung der bestückten Leiterplatte im eingebauten Zustand simuliert, die Funktionalität von bestückten Leiterplatten oder kompletten Geräten geprüft und sichergestellt, dass die Komponenten korrekt funktionieren.
Elektrische Testumgebung
Boundary Scan
Beim Boundary Scan Test (Grenzpfadabtastung) verfügen die zu prüfenden SMD-Bauteile über eine spezielle Boundary Scan Zelle, über die sich Signale in die Schaltung des zu testenden elektronischen Bauteils einbringen lassen, um die korrekte Funktionsweise zu prüfen.
Der Boundary Scan Test erkennt fehlerhafte Bauelemente, Löt-, Bestückungs- und Lötbadfehler beim Einsatz von SMT und THT nach der vollständigen SMD-Bestückung.
Elektrische Testumgebung
Manueller elektrischer Test
Der manuelle elektrische Test wird mittels Tisch-Adapter und diversen, über PC-gesteuerte, Messgeräten durchgeführt. Die On-Board Programmierung der Integrierten Schaltkreise erfolgt extern & on-board.
Elektrische Testumgebung
Hochspannung / Sicherheitstest
Mit diesen Tests werden der Ableitstrom der montierten Baugruppen, Hochspannungstest, Isolationstest und die ordnungsgemäße Funktion des Schutzleiters durchgeführt und geprüft. Verwendet wird ein Prüfgerät der elektr. Sicherheit (GS-Test).
Elektrische Testumgebung
End Of Line Test / Final-Test
Hierbei erfolgt der Selbsttest der Baugruppe und ein automatischer Funktionstest.
Elektrische Überprüfung der ESD-Baugruppen
Großzügige Ausstattung
Unsere Leistungsfähigkeit ermöglicht durch vielfältige Testmöglichkeiten eine feine Abstufung der von unseren Kunden gewünschten elektrischen Testtiefe. Hierzu stehen neben Messgeräten auch automatische Testsysteme zur Verfügung. Unsere Elektronik- und Prüffeldspezialisten testen und prüfen damit je nach Kundenwunsch.
IC-Test von bestückten Baugruppen
Messen mit Stiftadaptern
In Circuit Tests (ICT) erkennen Materialfehler der Bestückung. Mit dem ICT werden fehlerhafte Leiterbahnen (Kurzschlüsse, Unterbrechungen usw.) sowie Löt- und Bauteilefehler erkannt.
Die Bauteile werden hierfür auf einen speziellen In Circuit Test-Prüfadapter aus feinen, federnd gelagerten Nadeln gesetzt. Diese kontaktieren bestimmte Punkte der Baugruppe und prüfen die Schaltungen elektronisch. Der ICT kommt vor allem bei großen Losgrößen zum Einsatz.
